光學(xué)共聚焦測試系統(tǒng)

產(chǎn)品亮點

– 基于光纖的共聚焦掃描測試，可?光纖芯徑: 4, 10, 25, 50, 100, 200 μm；
– 光學(xué)元件可更換以適用于不同波長的應(yīng)用；
– Kohler 光照方式實現(xiàn)大面積/均勻的照明范圍 ΦFOV～30 μm；
– 集成了CMOS相機，具備Type-C接口；
– 1" 或 0.5" 光學(xué)元件可?動旋轉(zhuǎn)安裝

集成化的磁光克爾(MOKE)測試光路，可直接安裝在共聚焦樣品桿上

產(chǎn)品亮點

– ?套測試裝置可實現(xiàn)兩種表征方式：圖像襯度與PEM鎖相；
– PEM+鎖相實現(xiàn)超?精度單點測量；
– 寬場成像模式，調(diào)制模式提高了磁滯回線測量靈敏度
– 采用電機精確控制旋轉(zhuǎn)角度，精確對準(zhǔn)偏振片與PEM

緊湊的光彈調(diào)制器，可安裝至共聚焦模塊上使用，也可作為獨立器件

系統(tǒng)組件 – 02. 共聚焦樣品桿

系統(tǒng)組件 – 03. 低溫光學(xué)物鏡

系統(tǒng)組件 – 04. 樣品安裝

靈活方便的樣品安裝方式，實現(xiàn)光電聯(lián)合測試

系統(tǒng)組件 – 05. 納米運動單元